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YMJ-C叶面积测定仪——一种不损伤叶片的测量方法
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产品: 浏览次数:140YMJ-C叶面积测定仪——一种不损伤叶片的测量方法 
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最后更新: 2017-12-22 14:18
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详细信息

“YMJ-C叶面积测定仪——一种不损伤叶片的测量方法”参数说明

是否有现货: 品牌: 托普
加工定制: 类型: 叶面积测定仪

“YMJ-C叶面积测定仪——一种不损伤叶片的测量方法”详细介绍

在植物生长发育过程中,叶片是影响其生理作用的重要器官。但它同时也受多种环境因素的影响从而呈现出不同的生长态势。为了研究这种态势对植物生长的影响,人们将这种态势量化为叶面积,所以要想研究叶片对植物生长性影响,我们可以通过叶面积来进行。
以往有关叶面积测定方法已有大量报道,传统的测定方法多为离体测定,在一定程度上对叶片造成破坏,且过程耗时、设备一般较昂贵。近些年来,一些学者在叶面积无损测定方面也开展了不少研究,然而这些研究大多利用图像处理软件进行测定,涉及较复杂的处理步骤,不利于测定方法的推广和应用。因此,省时、便捷、准确、无损的叶面积测定方法更符合未来研究工作的需要。
那究竟什么样的方法才能无损、简单、快速地测定出叶面积的大小呢?
这里我推荐托普生产的YMJ-C型叶面积测定仪,它是一种实地测量的叶面积无损测定方法,可实现对同一叶片的连续测量,对促进叶片生长、发育等动态的研究,特别是对一些低植物密度的植物研究有重要作用。
更多详情:
叶面积测定仪 http://www.topzwsl.com/products_t1.html
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